ブルカージャパン、3/19に東京で高分子向けAFM分析技術セミナーを開催

 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月19日、東京都中央区の東京 茅場町スペース まる八( http://space-maruhachi.com/contact/ )で、「高分子のためのAFM 分析技術セミナー」を開催する。今回は、東京工業大学 中嶋 健 教授による特別講演を設けている。

 問い合わせ先は以下のとおり。
 電話:03-3523-6361 / Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
 WEB登録サイト https://www.bruker-nano.jp/afm-ndma-seminar

 プログラムは以下のとおり。

・13:15~13:30 開会挨拶 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 事業部長 相川重夫氏

・13:30~14:40 [招待講演]「AFMを用いたナノレオロジーの可能性」東京工業大学 中嶋 健 教授

・14:40~15:10 「最新nDMAモードとAFM機械特性評価ソリューション」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 寺山剛司氏

・15:10~15:30 休憩(名刺交換)

・15:30~16:10 「ナノインデンテーションを用いた高分子材料の機械特性評価」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 長谷川勇人氏

・16:10~16:50 「高分子のナノスケール赤外分光技術」未定

・16:50~17:00 Q&A、アンケート

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