ブルカージャパン、3/7に東京でナノインデンテーションセミナーを開催

 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月7日13:15~17:00、東京都中央区の東京 スペース まる八茅場町( http://space-maruhachi.com/contact/ )で「ナノインデンテーションセミナー」を開催する。定員は40名で参加費用は無料(事前登録制)。今回は日産アーク清水悟史氏とセイコーエプソンIan Thomas Clark氏による特別講演を設けている。

 問い合わせ先は以下のとおり。
 電話:03-3523-6361 / Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
 WEB登録サイト https://www.bruker-nano.jp/event#ttl-NIseminar2019

 プログラムは以下のとおり

・13:15~13:30 開会挨拶

・13:30~14:30  [特別講演] 「大気非暴露ナノインデンテーション法による電池材料特性評価(仮)」日産アーク 機能解析部 ナノ物性解析室 清水 悟史 氏

・14:30~15:00  [特別講演] 「ナノインデンテーションを用いるMEMS材料の機械特性評価(仮)」セイコーエプソン 分析リサーチセンター Ian Thomas Clark 氏 

・15:00~15:10 休憩

・15:10~15:50 「最新トライボインデンターの動向(仮)」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 長谷川勇人氏

・15:50~16:00 「新登場AFM動的粘弾性評価 nDMA (仮)」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 荒尾昌樹氏

・16:00~16:15 ブルカージャパン 茅場町デモラボへ移動 

・16:15~17:00 装置デモンストレーション & 質疑応答

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